Softwarepaket zur Erweiterung der Betriebsarten des kompakten Rasterkraftmikroskops (09700-99) mit konduktivem AFM, Kraftmodulation und Spreizwiderstand für die Materialanalyse. Inkl. Satz Proben und Cantilever.
Softwarepaket / Aktivierungsschlüssel für:
- Konduktives AFM
- Ausbreitungswiderstand
- Kraftmodulation
- Strom-Spannungs-Spektroskopie
Satz von 3 Mustern:
- Probe für MFM (Magnetische Kraftmikroskopie) - Digital Data Storage (DDS) Tape
- Probe für Ausbreitungswiderstand - Graphit (HOPG)
- Probe für den Phasenkontrast - PS/PMMA-Folien
Satz von 8 Auslegern:
- 4 x Multi75E-G (Pt/Cr leitfähige Beschichtung, Dynamic Force Mode) für Kraftmodulation, EFM, Spreizwiderstand, leitfähiges AFM
- 4 x MFMR (magnetische Beschichtung, Dynamic Force Mode) für MFM
Weitere Anweisungen entnehmen Sie bitte dem AFM-Handbuch, das mit dem AFM-Gerät geliefert wird und in das Softwarepaket measure nano integriert ist (Help Panel). Die PS/PMMA-Probe eignet sich auch für Kraftspektroskopie und Scratching in Verbindung mit dem Basic Set (09700-99) und/oder dem Manipulation Upgrade (09702-00).
Softwarepaket / Aktivierungsschlüssel für:
- Konduktives AFM
- Ausbreitungswiderstand
- Kraftmodulation
- Strom-Spannungs-Spektroskopie
Satz von 3 Mustern:
- Probe für MFM (Magnetische Kraftmikroskopie) - Digital Data Storage (DDS) Tape
- Probe für Ausbreitungswiderstand - Graphit (HOPG)
- Probe für den Phasenkontrast - PS/PMMA-Folien
Satz von 8 Auslegern:
- 4 x Multi75E-G (Pt/Cr leitfähige Beschichtung, Dynamic Force Mode) für Kraftmodulation, EFM, Spreizwiderstand, leitfähiges AFM
- 4 x MFMR (magnetische Beschichtung, Dynamic Force Mode) für MFM
Weitere Anweisungen entnehmen Sie bitte dem AFM-Handbuch, das mit dem AFM-Gerät geliefert wird und in das Softwarepaket measure nano integriert ist (Help Panel). Die PS/PMMA-Probe eignet sich auch für Kraftspektroskopie und Scratching in Verbindung mit dem Basic Set (09700-99) und/oder dem Manipulation Upgrade (09702-00).
Eigenschaften
- P0970100
- 09701-00