En combinaison avec le goniomètre pour l'appareil à rayons X, pour le maintien d'échantillons plats (cristaux, tôles) jusqu'à une épaisseur de 10 mm.
Avantages
Ce support permet d'évaluer les clichés Debye-Scherrer, notamment avec le support d'échantillons de poudre, ainsi que d'étudier les matériaux.
Equipement et caractéristiques techniques
Dimensions H × L × P (mm) : 42 × 20 × 42
Poids : 40 g
Avantages
Ce support permet d'évaluer les clichés Debye-Scherrer, notamment avec le support d'échantillons de poudre, ainsi que d'étudier les matériaux.
Equipement et caractéristiques techniques
Dimensions H × L × P (mm) : 42 × 20 × 42
Poids : 40 g
Caractéristiques
- P0905802
- 09058-02